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電子回路の解曲線追跡法における可変刻み幅による求解法
https://kokushikan.repo.nii.ac.jp/records/5510
https://kokushikan.repo.nii.ac.jp/records/55102af9dbfb-d26c-4493-b25f-ed4e74f72243
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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本文 (387.7 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2016-02-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 電子回路の解曲線追跡法における可変刻み幅による求解法 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Varied Interval method in Tracing Solution Curves of Electronic Circuits | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 見出し | ||||||
| 大見出し | 「論文 Original Paper」 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| 著者 |
森岡, 望
× 森岡, 望 |
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| bibliographic_information |
国士舘大学工学部紀要 巻 38, 発行日 2005-03 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 国士舘大学工学部 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0368-508X | |||||
| 他の資源との関係 | ||||||
| 値 | i-libkiss レコードID:1006125 | |||||
| 出版タイプ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
